光盘样品
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产品中心
NT10 Plus 为 NT10 Core 升级款科研原子力显微镜，依靠探针原子作用力成像，无需样品导电镀膜，可在大气中原位无损检测。设备升级扫描与探测系统，高精度表征材料三维纳米形貌，支持多成像模式与功能拓展，适配半导体、薄膜、二维材料等试样，适用于科研与工业微纳检测。
产品优势
- 高性能多FPGA数字化扫描探针控制系统
- 基于Xilinx Kintex 7系列和ZYNQ系列芯片的高性能主控平台
- 支持通道选择的FPGA数字化快速PID反馈控制器
- 支持自动进针和多通道同步的步进电机控制
- 锁相放大器：基于定制FPGA的高速设计
产品参数
产品
适用领域
半导体晶圆缺陷检测；材料类表面形貌、粗糙度、力学特性、局域电学特性等；生命科学；生物医学。
产品成像
轻敲模式
接触模式
力曲线
 |  |  |  |  |  |  |
| 表面电荷分布 | 磁畴 | 磁泡 | 表面电势 | 螺旋结构 | ||
接触模式
扫描图样（形貌）
二维光栅样品
轻敲模式
扫描图样（形貌）
光盘样品
Gold bump样品
二维光栅样品
磁力显微镜（MFM）
扫描图样（相位）
磁带样品
磁盘样品
铁镓碲样品
静电力显微镜（EFM）
扫描图样
叉指电极样品形貌
叉指电极样品相位
压电力显微镜（PFM）
扫描图样（相位）
PMNPT样品相位
PMNPT样品相位
关键词： 原子力显微镜(AFM-NT10 Plus)
