光盘样品
Product Center
产品中心
NanoTech 10原子力显微镜AFM，其用于可视化并测量材料表面的三维纳米结构。基于探针与样品表面间的相互作用，无需对样品进行特殊处理或导电涂层。AFM提供的高分辨率图像能够揭示表面特征，从原子级到微米级。
适用领域
半导体晶圆缺陷检测；材料类表面形貌、粗糙度、力学特性、局域电学特性等；生命科学；生物医学。
产品成像
轻敲模式
接触模式
力曲线
 |  |  |  |  |  |  |
| 表面电荷分布 | 磁畴 | 磁泡 | 表面电势 | 螺旋结构 | ||
接触模式
扫描图样（形貌）
二维光栅样品
轻敲模式
扫描图样（形貌）
光盘样品
Gold bump样品
二维光栅样品
磁力显微镜（MFM）
扫描图样（相位）
磁带样品
磁盘样品
铁镓碲样品
静电力显微镜（EFM）
扫描图样
叉指电极样品形貌
叉指电极样品相位
压电力显微镜（PFM）
扫描图样（相位）
PMNPT样品相位
PMNPT样品相位
关键词： 原子力显微镜AFM-NanoTech10
上一页
